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MICRO-EPSILON 干扰测量仪IMS5400-TH
  新型 IMS5400-TH 白光干涉仪开辟了工业厚度测量的新视角。该控制器提供智能评估功能,能够以*高精度测量透明物体的厚度。 
2024-12-09
MICRO-EPSILON 干扰测量仪IMS5600-DS
  新型白光干涉仪 IMS5600-DS 用于*高精度的距离测量。该控制器提供具有智能评估功能的特殊校准,并可实现亚纳米分辨率的*对测
2024-12-09