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MICRO-EPSILON 干扰测量仪IMS5400-TH
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产品: 浏览次数:2MICRO-EPSILON 干扰测量仪IMS5400-TH 
品牌: MICRO-EPSILON
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最后更新: 2024-08-14 08:46
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详细信息
    新型 IMS5400-TH 白光干涉仪开辟了工业厚度测量的新视角。该控制器提供智能评估功能,能够以*高精度测量透明物体的厚度。
  特征
  即使在不同距离和振动目标的情况下,也能进行纳米*精确厚度测量和多层厚度测量
  远距离稳定测量,即使是镀有减反射涂层的目标
  行业优化的传感器,具有坚固的金属外壳和柔性电缆
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